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    全反射X熒光光譜儀有哪些優勢之處

    更新日期: 2019-08-12
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    全反射X熒光光譜技術(TXRF)基于X熒光能譜法(EDXRF),但與能譜分析有著明顯的區別:傳統EDXRF采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,盡可能上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。

    與原子吸收及發射光譜方法相比,TXRF具有如下優勢:

    1、無需復雜的樣品前處理過程,原子吸收或ICP的樣品前處理占據了整個分析過程的絕大部分時間,通常耗時幾個小時甚至幾天,同時TXRF能有效避免前處理引入的誤差;

    2、對于易揮發元素有良好檢測效果,如Hg/As/Se在消解過程中會損失,Cl/Br/I等ICP檢測效果較差;

    3、檢測元素種類更多,可達80余種, 元素分析范圍從Na覆蓋到U;

    4、檢出限更低,多數元素在ppt級,尤其Pb/Rh等元素,而原子吸收或ICP為ppb級。

     

    與ICP-MS方法相比,兩者檢出限基本持平,但TXRF可以無視ICP-MS如下痛點:

    1、ICP-MS的耐鹽度較差,分析高鹽分樣品時檢出限差(S/Ca/Fe/K/Se等),同時酸基體對于測量影響顯著,如鹽酸、高氯酸、磷酸、硫酸會引起質譜干擾;

    2、ICP-MS根據質核比檢測元素,當存在同質異位素時,很難的完成檢測;

    3、ICP-MS需要超凈實驗室,造價昂貴;

    4、ICP-MS運行成本高,取樣錐、渦輪泵、檢測器為易損件。

     

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